Accurion UltraBAM 是专为空气/液体界面设计的布鲁斯特角显微镜。它可以直接观察朗缪尔单分子层或吸附薄膜。它同样适用于玻璃、石英或类似材料等电介质基底。Accurion UltraBAM 结合了高分辨率和整体聚焦的实时成像。*的成像光学系统能够以每秒 20-35 帧的速度提供全聚焦图像。高性能相机和特定的校准算法实现了反射率的定量测量，从而可以监测吸附动力学或厚度变化。

Accurion EP4 椭偏显微镜 用途：多层薄膜的厚度和光学常数（n、k值）测量

RSE是一种特殊类型的椭偏仪，它通过将参比样品和被测样品进行比较，测量它们之间的差异从而对被测样品进行椭偏分析。在测量过程中没有任何需要转动或者调制的光学部件，并且可以在单次测量中获得完整的、高分辨率的光谱椭偏数据。通常可每秒采集200个光谱数据。通过配备同步的XY二维自动样品台可以在数分钟内测量获得大面积样品的薄膜厚度分布图。

将定量成像技术引入您的仪器中。

准确成像, 无交叉耦合现象 业界*的XYZ轴线性度，样品和探针分别由独立的柔性制导扫描器控制移动 Z低的平面偏移度，全程水平扫描时平面偏移量不超过1纳米 垂直扫描器全程伸缩时，线性度优于0.015% 优化的水平扫描器ringing现象, 科学的正向sine-scan算法 原子力显微镜

- 原子力显微镜（AFM）有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。 - 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM）。 - 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。

在同级产品中，Park XE7能够带来Z高纳米级分辨率的测量效果。得益于*的原子力显微镜架构，即独立的XY轴和Z轴柔性扫描器，XE7能够实现平滑、正交且线性的扫描测量，从而精确成像和测量样品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式还能为您带来*的图像效果，探针可以在多次扫描后图像的分辨率仍不会受影响。