准确成像, 无交叉耦合现象 业界*的XYZ轴线性度，样品和探针分别由独立的柔性制导扫描器控制移动 Z低的平面偏移度，全程水平扫描时平面偏移量不超过1纳米 垂直扫描器全程伸缩时，线性度优于0.015% 优化的水平扫描器ringing现象, 科学的正向sine-scan算法 原子力显微镜

- 原子力显微镜（AFM）有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。 - 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM）。 - 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。

在同级产品中，Park XE7能够带来Z高纳米级分辨率的测量效果。得益于*的原子力显微镜架构，即独立的XY轴和Z轴柔性扫描器，XE7能够实现平滑、正交且线性的扫描测量，从而精确成像和测量样品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式还能为您带来*的图像效果，探针可以在多次扫描后图像的分辨率仍不会受影响。