Park FX40 纳米科学研发界的新星 全自动原子力显微镜
仪器简介
Park FX40全自动原子力显微镜(AFM)是一款专注于纳米科学研究的精密设备,通过智能自动化与高精度技术,为材料科学、半导体、生命科学等领域的研究者提供高效支持。作为Park Systems的核心产品之一,FX40结合先进的硬件设计与智能化软件系统,简化了从探针更换、激光校准到高清成像的全流程操作,从选探针到放置再到全自动扫描样品,只需轻松一键。
仪器特点
1. 全流程自动化操作
l 自动探针管理:配备8针盒磁控换针系统,支持探针类型自动识别与更换,减少人为操作干扰;
l 智能激光校准:该功能将激光精确定位到悬臂梁的合适位置并进一步分别优化PSPD的垂直及横向位置。您只需简单点击,移动下X,Y和Z轴便可得到不失真的高清扫描图。
l 简化操作流程:Park SmartScan软件支持预设参数,自动完成扫描区域定位与高清成像。
2. 高精度扫描技术
l 平直正交XY轴扫描:采用串扰消除技术,减少扫描器弓形弯曲,支持样品表面平直扫描;
l 独立Z轴扫描器设计:结合低噪声探测器(0.02 nm噪声带宽),实现纳米级形貌测量;
l 非接触扫描模式:True Non-Contact™模式避免针尖与样品接触,适用于软性样品分析。
3. 多功能与拓展性
l 多模式兼容:支持接触模式、轻敲模式、磁力显微镜(MFM)、导电原子力显微镜(C-AFM)等模式,满足电学、力学等分析需求;
l 环境监测功能:内置传感器实时监测温度、湿度及振动,辅助优化实验条件;
4. 用户友好设计
l 双摄像头系统:样品与探针摄像头协同定位,提升操作便捷性;
l 直观软件界面:Park SmartScanTM提供三步操作流程(预设、定位、成像),降低使用门槛;
仪器应用
Park FX40凭借其技术特性,可服务于多个科研与工业领域:
1. 材料科学
2. 半导体与电子器件
3. 生命科学
4. 能源与催化
选择Park FX40的优势?
l 操作便捷:简化传统AFM的多步流程,提升实验效率;
l 数据可靠性:低噪声探测与平直扫描技术支持高精度测量;
l 设计耐用性:非接触模式可减少探针损耗;
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